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產(chǎn)品中心熱釋電測(cè)試系統(tǒng)
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PCTS-3000H高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
PCTS-2000E偏置電場(chǎng)下熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場(chǎng)的條件下，測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到場(chǎng)致熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
PCTS-2000H高溫?zé)後岆姕y(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
PCTS-3000E中低溫偏置電場(chǎng)下熱釋電測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場(chǎng)的條件下，測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到場(chǎng)致熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
PCTS-2000熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)。
PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
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