PCTS-2000熱釋電系數測試系統采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數。

PCTS-2000熱釋電系數測試系統采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

熱釋電系數測試主要性能指標：

a. 測量范圍：0.1 pA ～ 1 μA

b. 測量精度：10 fA

c. 樣品類型：單晶、塊體、膜

d. 最大樣品厚度：10 mm

e. 最大樣品尺寸：Φ30 mm

f. 樣品形狀：不限

g. 溫度范圍：RT ～ 260 ℃

h. 控溫精度：±0.1 ℃

i. 升降溫速率：1～10 ℃/min

j. 具有控溫故障診斷監控、超溫自動斷電保護功能

本測試系統由主控器、高溫測試箱（配熱釋電測試夾具）、計算機及系統軟件部分組成。主控器實現收集熱釋電電流、與PC通訊等功能，系統軟件包括可視化數據采集和管理功能，測試時，按要求安裝樣片后，一鍵啟動熱釋電系數測量，測量過程曲線和測試結果自動保存。

配置的高溫測試箱，以電阻絲為加熱元件，采用T型熱電偶和可編程溫度控制器。爐膛采用全金屬爐膛，溫度可達260℃，控溫精度±0.1℃；同時設有通氣接口，可用于惰性氣體下使用。具有溫度場均衡、控溫準、升降溫速率快等優點。

先后有華中科技大學、四川大學、南京理工大學、上海師范大學、河北大學、湖北大學、江西科技學院等單位選購 PCTS-2000熱釋電系數測試系統，已助力客戶在ACS AMI、J AM CERAM SOC、ACTA MATER等國內外*期刊發表優秀論文，產品詳細資料請咨詢我司。