研禾科技FETS-2000鐵電分析儀/電滯回線測試可用于材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、保持力測試等鐵電性能的檢測。

FETS-2000是一款功能豐富的鐵電分析儀/電滯回線測試，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。

鐵電參數測試主要性能指標：

a. 內置測試電壓可選±10/30/100/200/500VAC，可外接5 kV高壓放大器（可擴展至10 kV）（國產、進口均適用）；

b. 動態電滯回線測試頻率范圍0.001Hz ～5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz，頻率可選；

c. 最大電荷解析度：10 mC（可擴展）；

d. 疲勞測試頻率300 kHz（振幅10 Vpp，負載電容1 nF）；

e. 漏電流測量范圍 1 pA ～ 20 mA（可擴展），分辨率0.1 pA；

f. 配有高壓擊穿保護模塊。

本測試系統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺（配鐵電測試盒）或高低溫探針臺（配高壓探針）、計算機及系統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器、通訊總線等功能，主控器提供擴展外置高壓放大器接口，可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統軟件包括可視化數據采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現滯回，脈沖，漏電，IV等性能測試。

本鐵電分析儀/電滯回線測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法，與傳統的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，容易定標和校準，并且能實現較高的測量準確度。

該系統測試功能：

動態電滯回線DHM

靜態電滯回線SHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

電擊穿強度BDM

漏電流LM

電流-偏壓

保持力RM

印跡印痕IM

THM模塊，變溫區間可選。